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軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)/中國航天技術(shù)進展叢書簡介,目錄書摘

2020-04-30 17:26 來源:京東 作者:京東
計算機叢書
軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)/中國航天技術(shù)進展叢書
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內(nèi)容簡介:  《軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)/中國航天技術(shù)進展叢書》是一部系統(tǒng)介紹軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)的著作,從可靠性設(shè)計和保證角度全面介紹了工程人員如何保證軍用嵌入式計算機在設(shè)計、生產(chǎn)、調(diào)試試驗,交付使用、維護和延壽等全生命周期內(nèi)的質(zhì)量。
  《軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)/中國航天技術(shù)進展叢書》共分11章,主要包括軍用嵌入式計算機的概述、設(shè)計風(fēng)險識別與控制、可靠性設(shè)計保證技術(shù)、復(fù)核復(fù)算技術(shù)、缺陷激發(fā)試驗方法、系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性模擬驗證、國產(chǎn)元器件替代驗證技術(shù),質(zhì)量問題歸零技術(shù)、貯存維護技術(shù)、整修延壽技術(shù),以及試驗與測試強度對軍用嵌入式計算機的壽命影晌等相關(guān)內(nèi)容。
  《軍用嵌入式計算機全生命周期可靠性設(shè)計保證技術(shù)/中國航天技術(shù)進展叢書》是對軍用嵌入式計算機的理論研究與工程實踐的總結(jié),適用于從事相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的工程研制人員和管理人員,也可作為高等院校相關(guān)專業(yè)的參考教材。
作者簡介:
目錄:第1章 軍用嵌入式計算機概述
1.1 引言
1.2 軍用嵌入式計算機的分類與用途
1.3 軍用嵌入式計算機的發(fā)展歷程
1.3.1 標(biāo)準(zhǔn)化歷程
1.3.2 國產(chǎn)化歷程
1.4 在役型號軍用嵌入式計算機面臨的問題
1.4.1 元器件停產(chǎn)斷檔問題
1.4.2 核心器件禁運問題
1.4.3 整機性能退化問題
1.4.4 國產(chǎn)化替代問題
1.4.5 壽命延長需求問題
1.5 軍用嵌入式計算機基本特征
1.5.1 嵌入式特性
1.5.2 器件依賴性
1.5.3 軟件支撐性
1.5.4 環(huán)境適應(yīng)性
1.5.5 長期貯存性

第2章 軍用嵌入式計算機設(shè)計風(fēng)險識別與控制
2.1 軍用嵌入式計算機的風(fēng)險特征
2.2 軍用嵌入式計算機的風(fēng)險類別構(gòu)成
2.3 軍用嵌入式計算機設(shè)計風(fēng)險的識別與控制
2.3.1 設(shè)計風(fēng)險的識別與控制基本要求
2.3.2 設(shè)計風(fēng)險的識別與控制基本方法
2.3.3 不同設(shè)計風(fēng)險層次的主要風(fēng)險因素分析
2.4 制造風(fēng)險的識別與控制基本要求
2.5 軍用嵌入式計算機最典型的風(fēng)險因素
2.5.1 新技術(shù)新產(chǎn)品
2.5.2 集成化散熱能力
2.5.3 國產(chǎn)元器件驗證
2.5.4 環(huán)境適應(yīng)性驗證
2.6 關(guān)于SOC器件應(yīng)用風(fēng)險的應(yīng)對措施
2.6.1 SOC特性分析
2.6.2 SOC應(yīng)用的綜合保證措施
2.6.3 小結(jié)
2.7 嵌入式計算機長期貯存的潛在風(fēng)險分析
2.7.1 目的和意義
2.7.2 試驗件狀態(tài)信息
2.7.3 試驗件性能與環(huán)境適應(yīng)性綜合驗證分析
2.7.4 試驗產(chǎn)品開蓋工藝檢查
2.7.5 試驗件產(chǎn)品印制板材及工藝分析
2.7.6 試驗件產(chǎn)品元器件性能參數(shù)變化分析
2.7.7 綜合分析結(jié)論

第3章 可靠性設(shè)計保證技術(shù)
3.1 軍用嵌入式計算機的構(gòu)成與設(shè)計內(nèi)容
3.1.1 軍用嵌入式計算機的構(gòu)成
3.1.2 軍用嵌入式計算機的設(shè)計內(nèi)容
3.2 不同研制階段應(yīng)重點考慮的問題
3.2.1 方案(模樣)階段
3.2.2 初樣階段
3.2.3 正(試)樣階段
3.2.4 定型批生產(chǎn)階段
3.3 軍用嵌入式計算機的可靠性_T程設(shè)計注意事項.
3.3.1 結(jié)構(gòu)設(shè)計
3.3.2 整機熱設(shè)計
3.3.3 電源設(shè)計
3.3.4 邏輯設(shè)計
3.3.5 可編程邏輯設(shè)計
3.3.6 軟件設(shè)計
3.3.7 可測試性設(shè)計
3.3.8 元器件選用設(shè)計
3.3.9 工藝保障性設(shè)計
3.3.10 電磁兼容性設(shè)計
3.4 軍用嵌入式計算機降額設(shè)計中應(yīng)注意的問題
3.4.1 型號產(chǎn)品降額設(shè)計的基本內(nèi)容
3.4.2 型號產(chǎn)品降額設(shè)計中存在的問題
3.4.3 降額設(shè)計應(yīng)注意的事項
3.4.4 具體參數(shù)降額設(shè)計中應(yīng)注意的問題
3.5 彈載串行通信接口可靠性設(shè)計
3.5.1 設(shè)計準(zhǔn)則
3.5.2 設(shè)計方法
3.5.3 接口設(shè)計注意事項
3.5.4 系統(tǒng)常見問題分析及處理
3.6 塑封低等級器件在軍用嵌入式計算機中的應(yīng)用技術(shù)
3.6.1 塑封器件的特性分析
3.6.2 全生命周期中影響塑封器件壽命與可靠性的因素分析
3.6.3 提高軍用電子產(chǎn)品塑封器件貯存可靠性的保證措施
3.6.4 小結(jié)
3.7 電容選用可靠性問題
3.7.1 電容器失效因素分析
3.7.2 電容器選用設(shè)計及操作要求
3.8 軍用嵌入式計算機調(diào)試及試驗注意事項
3.8.1 控制測試設(shè)備狀態(tài)
3.8.2 固化測試項目
3.8.3 規(guī)范測試記錄
3.8.4 改進調(diào)試工藝
3.8.5 調(diào)試與試驗過程控制
3.8.6 完善試驗方法
3.8.7 電磁兼容試驗中常見問題分析
3.9 軍用小型化國產(chǎn)計算機調(diào)試試驗技術(shù)
3.9.1 小型化產(chǎn)品的基本特點
3.9.2 調(diào)試重點
3.9.3 試驗重點

第4章 軍用嵌入式計算機復(fù)核復(fù)算技術(shù)
4.1 目的和適用范圍
4.2 規(guī)范性引用文件
4.2.1 術(shù)語和定義
4.2.2 復(fù)核復(fù)算的內(nèi)容及時機
4.2.3 復(fù)核復(fù)算內(nèi)容方法及報告編寫的基本要求
4.2.4 復(fù)核復(fù)算會議資料的準(zhǔn)備要求
4.2.5 復(fù)核復(fù)算會議專家組成要求
4.2.6 復(fù)核復(fù)算評審會的要求

第5章 軍用嵌入式計算機缺陷激發(fā)試驗方法
5.1 試驗?zāi)康?
5.2 被試產(chǎn)品狀態(tài)和數(shù)量要求
5.3 試驗項目和方法
5.3.1 溫度步進應(yīng)力試驗
5.3.2 振動量級步進應(yīng)力試驗
5.3.3 綜合應(yīng)力試驗
5.4 試驗停止的基本要求
5.5 試驗數(shù)據(jù)的記錄與處理要求
5.6 故障判別準(zhǔn)則和故障處理

第6章 軍用嵌入式計算機系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性模擬驗證
6.1 建設(shè)軍用嵌入式計算機系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性模擬驗證系統(tǒng)的必要性
6.2 產(chǎn)品存在的系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性問題
6.3 模擬環(huán)境系統(tǒng)方案構(gòu)造
6.4 系統(tǒng)模擬驗證功能
6.4.1 系統(tǒng)電源特性模擬
6.4.2 系統(tǒng)總線特性模擬
6.4.3 系統(tǒng)環(huán)境等效模擬
6.5 系統(tǒng)模擬驗證測試項目

第7章 國產(chǎn)元器件替代驗證技術(shù)
7.1 國產(chǎn)元器件驗證的必要性
7.2 國產(chǎn)化替代元器件選用原則
7.3 國產(chǎn)化替代驗證項目
7.4 國產(chǎn)化替代驗證方法
7.4.1 元器件級替代驗證程序及方法
7.4.2 整機級替代驗證方法
7.4.3 系統(tǒng)級替代驗證
7.5 驗證結(jié)論確定

第8章 軍用嵌入式計算機技術(shù)質(zhì)量問題歸零技術(shù)
8.1 質(zhì)量問題發(fā)生的類型
8.2 質(zhì)量技術(shù)問題歸零的效果
8.3 歸零的基礎(chǔ)含義
8.4 歸零的科學(xué)性
8.5 型號歸零的方法要求
8.5.1 技術(shù)歸零
8.5.2 管理歸零
8.6 技術(shù)歸零報告的編寫

第9章 軍用嵌入式計算機貯存維護技術(shù)
9.1 軍用嵌入式計算機產(chǎn)品貯存可靠性影響因素構(gòu)造模型
9.2 軍用嵌入式計算機產(chǎn)品貯存維護技術(shù)
9.3 導(dǎo)彈武器型號貯存過程中加電測試對計算機產(chǎn)品的影響分析
9.3.1 常用元器件失效機理分析
9.3.2 各類元器件的貯存退化趨勢影響分析
9.3.3 電應(yīng)力對典型元器件失效模式產(chǎn)生的影響分析
9.3.4 現(xiàn)有型號計算機產(chǎn)品貯存條件下加電間隔能力調(diào)查
9.3.5 綜合分析

第10章 軍用嵌入式計算機整修延壽技術(shù)
10.1 整修技術(shù)
10.1.1 整修方案
10.1.2 整修工作實施
10.1.3 整修試驗考核
10.2 延壽技術(shù)
10.2.1 延壽方案
10.2.2 延壽工作實施
10.2.3 整修延壽數(shù)據(jù)記錄
10.2.4 整修延壽結(jié)果評定
10.2.5 整修延壽工作總結(jié)評審
10.3 加速壽命試驗對產(chǎn)品功能性能的影響性分析
10.3.1 對產(chǎn)品減振器性能的影響
10.3.2 對產(chǎn)品外連接器的性能影響
10.3.3 對光電耦合器性能的影響

第11章 試驗與測試強度對軍用嵌入式計算機的壽命影響
11.1 試驗強度對整機產(chǎn)品的壽命影響
11.1.1 元器件的測試篩選試驗
11.1.2 整機產(chǎn)品的溫度循環(huán)試驗
11.1.3 整機產(chǎn)品的振動試驗
11.2 測試強度對整機特殊器件壽命的影響
11.2.1 擦寫次數(shù)有限制的存儲器壽命影響
11.2.2 電磁繼電器壽命的影響
11.2.3 特殊接口器件壽命的影響
11.2.4 特制灌封模塊壽命的影響
11.3 接插件對整機產(chǎn)品壽命的影響
11.4 X光照射及強磁環(huán)境對計算機產(chǎn)品功能、性能的影響
11.5 綜合影響分析
參考文獻
后記
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